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芯片测试接口板(FT和CP)
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芯片测试程序开发及相关软件开发
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FPGA和嵌入式系统开发
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PXIe通用总线仪表板开发
1.PXIe数字IO仪表板卡。 2.256个数字IO通道，电压范围，1.2~3.3V，每个通道均有PMU通道。 3.8个DPS通道，八个电源通道可以Merge，提供更大的电流。 4.主要针对OS测试，漏电测试，功耗测试，Gross Function测试。 5.可以应用于DDR，IOT和RF测试等。
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Handler一拖四驱动卡
1.适用于Handler的TTL接口的驱动。可以支持一台测试机带动最多四个 Handler。有效降低测试成本。 2.采用纯并行编程，缩短通讯时间。通讯时间可以缩短50%左右。 3.软件可编程，可以适应所有测试机和Handler。 4.已应用于S200测试机和RF的系统级测试。 5.显著降低测试成本。
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PCB维修
1.各种封装元器件的替换。 2.BGA元件的从新植球。 3.插孔和贴片连接器的替换。 4.包括焊盘的从新安装。
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高速信号的电磁场仿真
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DDR读写眼图仿真
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电源平面阻抗，电流密度和压降仿真
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J750HD晶圆测试高速数据采集卡
1.用FPGA采用DMA方式，将高速并行数据发送到测试机的工作站中，并进行分析。 2.提供全部的硬件，驱动和软件集成。
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高速数字信号测试接口板
包括DUT和GUT芯片。
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通孔回流焊焊接工艺
DDR模组和板载DDR颗粒。
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高功率电源芯片测试板
具备复杂的辅助测试电路。
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高并行度，多端口射频信号测试板
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老化和HAST测试板
1.提供各种平台老化和HAST测试板。 2.订制独立温控老化测试方案。

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